Author Affiliations +
L. C. W. Scheers,1 G. J. M. Vissers,1 S. A. van Binsbergen,1 A. I. Huerta Viso,1 R. A. Overzier,1 A. P. C. Oosterwijk,1 A. M. J. van Eijk,1 E. Sucher,2 K. Stein2
1TNO (Netherlands)
2Fraunhofer-Institut für Optronik, Systemtechnik und Bildauswertung IOSB (Germany)