Author Affiliations +
Bernd Stenkamp,1 Michael Abraham,1 Wolfgang Ehrfeld,1 Erwin Knapek,2 M. Hintermaier,2 Michael T. Gale,3 Rudolph H. Morf3
1IMM Institut fuer Mikrotechnik GmbH (Germany)
2Siemens AG Corporate Research (Germany)
3Paul Scherrer Institute (Switzerland)