Author Affiliations +
Alexander M. J. van Eijk,1,2 Detlev Sprung,1 Erik Sucher,1 Christian Eisele,1 Dirk Seiffer,1 Karin Stein1
1Fraunhofer-Institut für Optronik, Systemtechnik und Bildauswertung (Germany)
2TNO Defence, Security and Safety (Netherlands)